Feinmetall 主要产品

半导体接触	用于晶圆接触的探针卡	印刷电路板接触	同轴接触式探头

我们生活的数字化比以往任何时候都更加广泛。现代设备的功能基于微芯片，其结构尺寸有时只有几纳米。虽然芯片变得越来越小，集成度越来越紧凑，但它们必须处理的任务范围也在不断增加。这是 Feinmetall 每天都乐于迎接的技术挑战。因为负责这些微芯片的接触。在生产的各个阶段都这样做。在晶圆生产过程中已经需要大量的测试过程。晶圆接触是通过探针卡进行的，该探针卡根据芯片设计、必要的电流、频率、温度和其他因素为 DUT 量身定制。这就是应用优质高科技的地方。没有专业知识，这里什么都行不通。测试最终微芯片也需要接触技术。细间距探头安装在相应的测试插座中，可以精确接触测试点。Feinmetall 细间距探头适用于常见的组件，如 BGA、LGA、QFP、QFN 或 WLCSP。

Feinmetall 接触式探头用于测试现场电子元件的安全接触 - 因此是电子行业的测试设备。过去，印刷电路板（PCB）测试通常分两个测试阶段进行。首先，使用镀镍裸板探头测试裸PCB的短路（在线）。然后用镀金加载板探针测试该功能。在线 （ICT） 和功能测试 （FCT） 现在通常在同一夹具上分两个阶段进行。此应用常见的是不同长度和弹簧行程的美式英制间距 50mil、75mil 和 100mil。

对于印刷电路板上的四极测量，已经开发了专门设计的同轴接触式探头。根据要求，Feinmetall 提供压入、旋入或带扭曲保护的版本。对于印刷电路板（PCB）上的高频测量，使用专门开发的同轴RF探头。