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Werth

思奉工业供应Werth(Werth Messtechnik GmbH)的产品

德国 Werth 多传感器和计算机断层扫描坐标测量机、创新传感器和定制测量软件,坐标测量机用于测量工件的几何特性,例如长度、角度、直径甚至复杂的位置公差。具有多个传感器的设备,例如机器视觉、激光器和探头,称为多传感器坐标测量机。

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品牌概况


Werth 专注于开发、生产和销售采用光学、手写笔、计算机断层扫描和多传感器技术的坐标测量机,以及微观特征的测量。这些细分市场的技术在器件技术和传感器技术方面的多项专利中。

Werth 设备可实现的精度可以在几微米的范围内,在高精度系统的情况下甚至可以在几 10 纳米的范围内,这使 Werth 成为多传感器坐标测量机的供应商之一。

支持用户使用设备的综合服务补充了活动领域并创造了高水平的客户满意度。符合 DIN EN ISO 9001 标准的质量管理体系和根据 DIN ISO 17025 标准校准坐标测量机的 DAkkS 实验室保证了设备的可靠性和准确性。

2003 年,Werth 与 PTB 一起成为为配备多传感器坐标测量机的实验室开发认证程序。2013 年 7 月,Werth Messtechnik GmbH 的 DAkkS 实验室也是同类机构中获得 X 射线断层扫描传感器坐标测量机校准认证的机构。


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Werth 主要产品

生产监控

测量室

计算机断层扫描

工具测量

多传感器附件

计算机断层扫描附件

传感器

测量软件


生产监控或测量室、小型或大型工件、光学传感器、多传感器技术或计算机断层扫描 - Werth 提供合适的坐标测量机。根据 VDI 2617 bzw. ISO 10360 标准进行的一致质量保证和验收测试保证了设备的可靠性和准确性。特定任务的测量偏差可以减少到亚微米范围。基于数十年经验的称职建议可实现客户特定的组合,适应相应的测量任务。

多传感器坐标测量机的广泛传感器和模块化设计可实现特定于应用的设备配置。使用多传感器技术,只需一台测量设备即可经济地解决许多测量任务,而在过去需要许多不同的设备。这大限度地减少了投资、维护费用和设置时间。

WinWerth 以独特的组合作带有各种传感器的设备,以及体积数据和点云的评估。Werth 的图像处理软件基于 40 年的经验,可能是目前可用的强大的坐标测量机图像处理传感器技术的基础。统一概念支持光学测距传感器、单点或扫描作中的传统探头、Werth 光纤探头、X 射线计算机断层扫描或具有多个传感器组合的设备。测量点、2D 图像或体积数据也可以方便地根据几何特性或目标/实际比较进行评估。PTB 认证的评估算法可确保正确的测量结果。

所有需要的信息都显示在图形中:带有 PMI 数据的 CAD 模型、体素体积、测量点云、与 3D 目标/实际比较的颜色编码偏差表示、视频图像、测量和计算元素,以及带有目标和实际值、公差和偏差的标志。为了满足多样化的要求,该软件具有模块化结构。可以作各种设备,从简单的测量投影仪到采用多传感器技术的复杂多轴坐标测量机,甚至是 X 射线断层扫描传感器。

现代坐标测量机涵盖了各种复杂程度的广泛任务。仪器作员的资质范围很广,既有受过良好培训的员工,只是偶尔进行几次测量,也有专家,他们利用所有技术可能性,也从事非常困难的测量任务。WinWerth 设备作软件的结构为截然不同的工作方式提供了支持。例如,有几个访问级别适用于作员的不同技能水平。用于导入目标数据的 CAD 系统和用于统计评估的 CAQ 系统的接口使坐标测量机能够适时地集成到公司的软件结构中。